công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
TP30 bảng dữ liệu(PDF) 4 Page - STMicroelectronics |
|
TP30 bảng dữ liệu(HTML) 4 Page - STMicroelectronics |
4 / 6 page TEST CIRCUIT 2 for IH parameter. R -VP VBAT = - 48 V Surge generator D.U.T. This is a GO-NOGO Test which allows to confirm the holding current (IH) level in a functional test circuit. TEST PROCEDURE : 1) Adjust the current level at the IH value by short circuiting the AK of the D.U.T. 2) Fire the D.U.T with a surge Current : Ipp = 10A , 10/1000 µs. 3) The D.U.T will come back off-state within 50 ms max. TP30-xxx Series 4/6 |
Số phần tương tự - TP30 |
|
Mô tả tương tự - TP30 |
|
|
Link URL |
Chính sách bảo mật |
ALLDATASHEET.VN |
Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |