công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
MCZ33880EW bảng dữ liệu(PDF) 9 Page - Freescale Semiconductor, Inc |
|
MCZ33880EW bảng dữ liệu(HTML) 9 Page - Freescale Semiconductor, Inc |
9 / 25 page Analog Integrated Circuit Device Data Freescale Semiconductor 9 33880 ELECTRICAL CHARACTERISTICS TIMING DIAGRAMS TIMING DIAGRAMS Figure 5. SPI Timing Diagram Figure 6. Valid Data Delay Time and Valid Time Test Circuit Figure 7. Enable and Disable Time Test Circuit Figure 8. Switching Time Test Circuit tDO(DIS) 0.7 VDD 0.2 VDD 0.2 VDD 0.7 VDD 0.2 VDD tLEAD tDI(SU) tDI(HOLD) tVALID tLAG CS SCLK DI DO MSB in MSB out LSB out 0.7 VDD 0.2 VDD tDO(EN) DO CL = 200 pF VDD = 5.0 V SCLK 33880 Under Test NOTE: CL represents the total capacitance of the test fixture and probe. DO CL = 200 pF RL = 1.0 kΩ CS 33880 Under Test NOTE: CL represents the total capacitance of the test fixture and probe. VDD = 5.0 V VPull-Up = 2.5 V Output CL RL = 620 Ω VPWR = 13 V CS 33880 Under Test NOTE: CL represents the total capacitance of the test fixture and probe. VDD = 5.0 V |
Số phần tương tự - MCZ33880EW |
|
Mô tả tương tự - MCZ33880EW |
|
|
Link URL |
Chính sách bảo mật |
ALLDATASHEET.VN |
Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |