công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
HEF4001UBD bảng dữ liệu(PDF) 5 Page - NXP Semiconductors |
|
HEF4001UBD bảng dữ liệu(HTML) 5 Page - NXP Semiconductors |
5 / 8 page January 1995 5 Philips Semiconductors Product specification Quadruple 2-input NOR gate HEF4001UB gates Fig.7 Test set-up for measuring forward transconductance gfs =dio/dvi at vo is constant (see also graph Fig.8). Fig.8 Typical forward transconductance gfs as a function of the supply voltage at Tamb = 25 °C. A : average, B : average + 2 s, C : average − 2 s, in where ‘s’ is the observed standard deviation. |
Số phần tương tự - HEF4001UBD |
|
Mô tả tương tự - HEF4001UBD |
|
|
Link URL |
Chính sách bảo mật |
ALLDATASHEET.VN |
Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |